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實驗背景
某高校航空材料實驗室，采用科學相機對陶瓷涂層損傷進行科學成像實驗。
實驗目標
驗證sCMOS相機在檢測經高溫處理后的陶瓷涂層材料表面微損傷如裂紋的有效性和工程實用性。
實驗步驟
2）架設Gloria 4.2科學相機，垂直對準樣本表面。
3）打開科學成像分析軟件RPC，設置sCMOS相機采集分辨率（2048×2048），Binning模式（1×1），曝光時間（50ms），采樣模式（CMS）。
4）通過實時預覽功能調整sCMOS相機的焦距和光圈，使樣品表面細節清晰成像。
5）工具欄啟用偽彩功能，此功能可將圖像中微小的灰度差異化轉化為顯著的顏色差異，增強人眼對低對比度損傷特征如微裂紋、應力痕、微小剝落區的辨識度。
6）連續采集多組圖像，記錄原始灰度圖和偽彩處理圖前后對比。另科學成像軟件RPC支持定量化分析，基于灰度閾值分割算法，統計損傷面積；支持繪制損傷區域與完好區域的灰度值分布直方圖，量化損傷與背景的對比度差異；同時也支持利用圖像測量工具，測量微裂紋的長度、寬度等幾何參數，精度可達微米級。
實驗數據 第一組樣本，經偽彩處理的陶瓷涂層表面圖像，清晰可見多條微米級裂紋，及一處微小剝落區域，顏色明顯區別于背景，如下圖。sCMOS相機捕捉到傳統方法易漏檢的細長微裂紋和淺表微小剝落坑。 第二組樣本高分辨率灰度圖（左）與偽彩處理圖（右）對比，偽彩圖顯著提升了低對比度應力集中區域的可見性，預示潛在損傷風險點。通過灰度值分析，可定量區分潛在損傷區域與正常區域的差異，如下圖，sCMOS相機偽彩處理功能有助于揭示早期損傷跡象，實現預測性維護。 實驗結論
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