?微小器件的快速動態過程與故障瞬態(使用高速攝像機捕捉)。
? 微小器件和結構在載荷或熱應力作用下的全場形變與應變分布(使用數字圖像相關(DIC)系統測量)。
? 貼片機抓取、吸附、平移芯片的過程中出現未按照既定程序運動或摩擦碰撞現象(使用高速攝像機捕捉)
? 手機跌落測試中機身及屏幕在沖擊瞬間的全場應變與變形分布(使用數字圖像相關(DIC)系統測量)
? 毫秒級觸控響應及屏幕位移瞬態(使用高速攝像機捕捉)
?芯片微通道流場瞬態流速和湍流分布(使用顯微粒子圖像測速(PIV)系統測量)
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